上海千塔機電科技有限公司
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表面絕緣阻抗測試(SIR)
(Surface Isolation Resistance Test )
應用:
離子遷移測試評估
絕緣電阻性能劣化測試評估
a.印刷電路板,焊劑,焊錫等電子組裝材料
b.BGA,CSP等微間距圖形(Fine-pitch Pattern) IC封裝
c.PDP
d.電容器,連接器
特色:
絕緣電阻量測范圍 1E+6~ 1E+13 歐姆 獨立測試電壓與量測電壓分別設定 應力電壓輸出范圍:0~500V 模組化通道設計,可獨立操作使用 完全由軟件設定的校正功能 實時數據或圖形顯示 結果分析圖表顯示
絕緣電阻量測范圍 1E+6~ 1E+13 歐姆
獨立測試電壓與量測電壓分別設定
應力電壓輸出范圍:0~500V
模組化通道設計,可獨立操作使用
完全由軟件設定的校正功能
實時數據或圖形顯示
結果分析圖表顯示